电子产品的可靠性试验大致包括:高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。
其中高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。
HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。
扩展资料:
电子产品可靠性测试是为了评估产品在规定的寿命期间内,在预期的使用、运输或储存等所有环境下,保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用,以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能,并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。
电子产品可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。
参考资料来源:百度百科-电子产品可靠性试验
电子产品可靠性测试:
高温试验
低温试验
储存温度变化环境试验
移行试验
跌落试验
振动试验
高压静电试验
按键寿命测试
压力试验
拉力试验
喷油、丝印附著力试验
制定可靠性测试规范,利於品质保证制度之推行,并促使可靠性测试标准化.
电子产品可靠性测试包括:高温试验、低温试验、温湿度储存、快速温变率试验、盐雾试验、低气压试验等,以上这些项目均可找富士康华南检测中心或者富士康武汉检测中心做测试。
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