采用LED全自动抽测探针台实现一键式LED芯片失效检测，适用于LED已切割晶粒的全自动点测，集成了智能针痕监控、自动化无损清针（自用专利技术）在内的多项自动化技术可大幅节省人工。
一个成熟的芯片，每个引脚和地之间都有一个寄生的diode，利用万用表测试这些diode是否存在，可以快速判断芯片是否正常或是损坏。
